硬化涂層膜厚儀是一款快速、準確測量薄膜表征應用的模塊化解決方案，要求的光斑尺寸小到幾個微米，如微圖案表面，粗糙表面及許多其他表面。它可以配備一臺計算機控制的XY工作臺，使其快速、方便和準確地描繪樣品的厚度和光學特性圖。

 

　　工作原理：

　　本產品采用電磁感應法測量涂層的厚度。位于部件表面的探頭產生一個閉合的磁回路，隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變，該磁回路將不同程度的改變，引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以精確地測量探頭與鐵磁性材料間的距離，即涂層厚度。

　　硬化涂層膜厚儀的符合以下執行標準：

　　GB/T 4956-1985 磁性金屬基本上非磁性覆蓋層厚度測量（磁性方法）；

　　JB/T 4957-1985 磁性和渦流式覆層厚度測量儀；

　　JJG 889-95《磁阻法測厚儀》；

　　GB/T 4957-1985 非磁性金屬基體上非導電覆層厚度測量（渦流方法）；

　　JJG 818-93《電渦流式測厚儀》；

 

　　主要特點：

　　1、硬化涂層膜厚儀具有電源欠壓指示功能；

　　2、操作過程有蜂鳴聲提示；

　　3、具有存貯功能：可存貯300個測量值；

　　4、可設置限界：對限界外的測量值能自動報警；

　　5、具有兩種測量方式：連續測量方式和單次測量方式；

　　6、具有兩種工作方式：直接方式和成組方式；

　　7、設有五個統計量：平均值、最大值、最小值、測試次數、標準偏差；

　　8、可進行零點校準和二點校準，并可用基本校準法對測頭的系統誤差進行修正；

　　9、具有刪除功能：對測量中出現的單個可疑數據進行刪除,也可刪除涂層測厚儀存貯區內的所有數據，以便進行新的測量；

　　10、具有與PC機通訊的功能：可將測量值、統計值傳輸至PC機，以便涂層測厚儀對數據進行進一步處理。